高加速壽命測試（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT測試）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應力來揭示設計缺陷和不足的過程。高加速壽命測試的目的是在，短時間內即可進行產品的失效原因分析，可在產品開發(fā)的早期階段識別出產品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產品的可靠性。
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